1、什么是低溫測試?
低溫環(huán)境對材料及設(shè)備的主要影響有:1)使材料發(fā)硬變脆;2)潤滑劑粘度增加,流動能力降低,潤滑作用減小;3)電子元器件性能發(fā)生變化;4)水冷凝結(jié)冰;5)密封件失效;6)材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化。低溫條件下試件的失效模式有:產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時可能發(fā)生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象。
低溫測試目的是檢驗試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制,是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲存和工作的適應(yīng)性及耐久性。低溫測試主要用于科研研究、醫(yī)療用品的保存、生物制品、遠(yuǎn)洋制品、電子元件、化工材科等特殊材料的低溫實驗及儲存。
低溫測試包括溫度漸變的低溫試驗和在指定的恒定低溫范圍內(nèi)進(jìn)行的低溫試驗,其主要應(yīng)用領(lǐng)域有電工電子產(chǎn)品以及海洋儀器等。
2、低溫測試的標(biāo)準(zhǔn)有哪些?
GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T 32065.2-2015海洋儀器環(huán)境試驗方法 第2部分:低溫試驗
IEC 60068-2-1-2007環(huán)境試驗.第2-1部分:試驗.試驗A:低溫
3、低溫測試的要點(diǎn)總結(jié)
(1)GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
適用范圍:本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ab和試驗Ad與早期版本無實質(zhì)性的差異,增加試驗Ae的目的主要是檢測那些要求在整個試驗過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行的設(shè)備;本低溫試驗的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力;本低溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力,在這種情況下,應(yīng)采用GB/T 2423. 22。本低溫試驗方法細(xì)分為以下幾種:非散熱試驗樣品低溫試驗,試驗Ab,溫度漸變;散熱試驗樣品低溫試驗,
試驗Ad,溫度漸變和試驗Ae,溫度漸變,試驗樣品在整個試驗過程通電。本部分給出的試驗方法通常用于試驗期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。
1)試驗Ab:非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗,本試驗方法用來進(jìn)行非散熱試驗樣品的低溫試驗,試驗樣品在低溫條件下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定。
將試驗樣品放入溫度為試驗室溫度的試驗箱中,然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)酷等級溫度。當(dāng)試驗樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后,在該條件下暴露到規(guī)定的持續(xù)時間。對于試驗時需要通電運(yùn)行的試驗樣品(即使它們不屬于散熱試驗樣品),應(yīng)在試驗樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后通電,根據(jù)需要進(jìn)行功能檢測。這種情況下,可能還需要一段時間達(dá)到溫度穩(wěn)定,然后試驗樣品在該低溫條件下暴露到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的持續(xù)時間。試驗樣品通常在非工作狀態(tài)下進(jìn)行試驗。本試驗通常采用高氣流速度循環(huán)。
2)試驗Ad:散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗--試驗樣品在溫度開始穩(wěn)定后通電。本試驗方法用來進(jìn)行散熱試驗樣品的低溫試驗,試驗樣品在低溫條件下放置足夠長時間以達(dá)到溫度溫度。
如果需要,可通過試驗確定試驗箱能否滿足低氣流速度的要求。將試驗樣品放入溫度為試驗室溫的試驗箱中,然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)定的嚴(yán)酷等級溫度。給試驗樣品通電或加電負(fù)載,檢查試驗樣品以確定其功能是否符合相關(guān)規(guī)范的要求。試驗樣品應(yīng)按照相關(guān)規(guī)范規(guī)定的工作循環(huán)和負(fù)載條件(如可行時)處于運(yùn)行狀態(tài)。當(dāng)試驗樣品的溫度達(dá)到穩(wěn)定后,在該條件下暴露到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的持續(xù)時間。本試驗通常采用低氣流速度循環(huán)。
3)試驗Ae:散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗--試驗樣品在整個試驗過程通電。本試驗方法用來進(jìn)行散熱試驗樣品的低溫試驗,試驗樣品在低溫條件下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定,并且要求試驗樣品在整個試驗過程中通電。
如果需要,可通過試驗確定試驗箱能否滿足低氣流速度的要求。將試驗樣品放入溫度為試驗室溫度的試驗箱中,給試驗樣品通電并根據(jù)需要進(jìn)行功能檢測。然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)酷等級溫度。當(dāng)試驗樣品的溫度達(dá)到穩(wěn)定后,在該條件下暴露到規(guī)定的持續(xù)時間。本試驗通常采用低氣流速度循環(huán)。
試驗溫度:-65℃、-55℃、-50℃、-40℃、-33℃、-25℃、-20℃、-10℃、-5℃、+5℃
持續(xù)時間:2h、16h、72h、96h
試驗結(jié)果評定:對試驗樣品進(jìn)行目視檢查以及相關(guān)規(guī)范要求的性能檢測
(2)GB/T 32065.2-2015海洋儀器環(huán)境試驗方法 第2部分:低溫試驗
適用范圍:本部分規(guī)定了海洋儀器低溫試驗的試驗要求、試驗過程和相關(guān)信息;本部分用于考核或確定海洋儀器在低溫環(huán)境條件下使用的適應(yīng)性,也可作為其零部件和組件的低溫環(huán)境試驗的參考。
試驗溫度:海洋儀器低溫試驗應(yīng)從(-2±3)℃、(-10±3)℃、(-20±3)℃、(-55±3)℃和海洋儀器使用環(huán)境的最低溫度中選取。
試驗持續(xù)時間:試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定后至少持續(xù)2h,或按相關(guān)規(guī)范進(jìn)行
試驗結(jié)果評定:對試驗樣品進(jìn)行外觀檢查、電性能、機(jī)械性能以及其他性能檢測,并與初始檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。
標(biāo)簽: 低溫測試 低溫檢測 耐低溫性能 低溫試驗 電工電子產(chǎn)品低溫試驗
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